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FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀）

產品簡介

FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀）
應用：

切割、修整、校正、 給半導體電路做標記

薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。

還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

? 可用于紅外光學系統*。

產品型號：
更新時間：2024-12-09
廠商性質：經銷商
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品牌其他品牌產地類別進口
應用領域電子/電池,電氣,綜合

FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀）

產品總覽

日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 ,工作距離足夠長，倍數高，能夠應用在各種檢測場合和質量確認方面。搭配Mitutoyo的全系列可見光遠場校正鏡頭，顯微鏡系統的放大倍率可涵蓋20X到8000X，工作距離范圍從6到34mm。對焦目鏡可安裝直徑為25mm的測量分劃板來測量。50/50三端輸出顯微鏡的粗調范圍為50mm，精確調整分辨率可達0.1mm，并可同時進行視頻輸出和雙目觀測。

FS70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。可應用于切割、修整、校正、 給半導體電路做標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。


通用參數

特點

采用Mitutoyo遠場校正鏡頭

三端輸出設計可輕松接收視頻

轉盤可接最多四個物鏡


應用：

切割、修整、校正、 給半導體電路做標記

薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。

還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

• 可用于紅外光學系統*。

應用：晶體硅的內部觀察；紅外光譜特征分析。

* 需要紅外光源和紅外攝像機。

• 支持BF (亮視場)、DF (暗視場)、偏振光及微分干涉對比(DIC) 的型號(產品) 可用。

• 帶有孔徑光闌的柯勒照明是表面照明光學系統上的標準配件。

• 內傾轉塔和超長工作距離的物鏡確保了顯微鏡下的高可操作性。



FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀）



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